在OLED面板仿真过程中,结合微观光学与宏观光学进行的分析是必不可少的。为补充FDTD功能并延伸至宏观光学领域,新增了光线追踪功能。FDTD与光线追踪技术的结合使得类似面板的大规模分析成为可能。

在WOLED中,子像素之间的光泄漏是一个严重问题。ExpertOLED会显示内部光的传播路径,并计算杂散光的强度。
通过这些信息,我们可以优化像素结构。

通过模拟真实过程的用户友好界面,可以轻松地导入真实GDSII掩码并生成结构。

为了缩短执行时间并提高准确性,已在引擎中应用了德鲁德-洛伦茨模型。可以快速获得高精度的结果。

可以直观地绘制透镜、衍射光栅、扩散膜等各种形状。

无需复杂步骤,即可从GDSⅡ掩码文件中生成逼真的模型结构。

采用适用于相当广阔区域的网格结构,可节省执行时间和内存。

该功能可轻松实现WOLED的色彩分析。
我们可以对具有串联结构和彩色滤光片的WOLED进行优化。
向OLED设备的电流·可以根据电压的施加,估计发光功率、电流分布、电子和空穴浓度、带弯曲。
在各层中发生衰减・我们可以估算出被禁锢的力量。
提供了更有效的边界条件,如PML、PBC和SBC,以使模拟结果与实际测量结果一致。

调整层厚度并由此优化微型腔效应对于在OLED设备中获得高发光效率至关重要。ExpertOLED展示了因层厚度和水平振动引起的腔体效应而变化的光的强度。

可以预先注册多个计算项目,并依次让它们进行自动计算。在夜间或节假日期间,它能有效应对多个项目的连续计算任务。
您不仅可以在查看器中查看结果,还可以将模拟中的所有结果输出为Excel格式。您可以在Excel中按照自己的意愿对数据进行处理。

并行计算能够提升模拟的速度。您可以指定用于计算的CPU数量。
硬件: WindowsPC
操作系统: Windows 8.1,10,11 Windows Server 2012, 2012R2(64位)
CPU: 建议配置:3.0GHz以上,12核以上。
运存: 16GB以上 32GB以上推奨